Defektwahrscheinlichkeit bei Qualitätskontrolle |
| 15.09.2010, 10:17 | Verzweiflung | Auf diesen Beitrag antworten » |
| Defektwahrscheinlichkeit bei Qualitätskontrolle Meine Frage: einer Qialitätskontrolle werden 50 Chips entnommen. Alle Chips haben die selbe Defektwahrscheinlichkeit p element [0,1], wobei die Defekte unabhängig von einander auftreten. a) geben sie einen Wahrscheinlichkeitraum an , mit welchem die Anzahl der defekten Chips beschirben werden kann. ( P werde über die Zähldichte angegeben) Wie Gr0ß ist im Fall p=0,2 die Wahrscheinlichkeit, dass b) mehr als ein Chip defekt ist, c) höchstens zwei Chips defekt sind ? Meine Ideen: Omega= 1-50 P =o,1 A=Ereignissastem b) P(X>=1) ! hier ist es einfacher die gegenseite zu berechnen für P(X=0) und dies von 1 abzuziehen um P(X>=1) zu bekommen ? also . 1-(P(X=0))=1- (50 über 0)*0,1^0*(1-0,1)^50 c) P(X<=2)also P(x=0)+P(x=1)+P(x=2) also (50 über 0)*0,1^0*(1-0,1)^50 +(50 über 1)*0,1^1*(1-0,1)^49+(50 über 2)*0,1^2*(1-0,1)^48 Ist eine Überlegung zu dieser Aufgabe richtig oder liege ich vollkommen daneben ? Danke Überhapt wer hier bis zum ende liest 
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